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首頁-產(chǎn)品系統(tǒng)-放射影像質(zhì)控設(shè)備-CRDR機檢測工具-RT CT-05B X射線微米分辨率測試卡

RT CT-05B X射線微米分辨率測試卡

產(chǎn)品型號：

簡要描述：先jin的微米技術(shù)實現(xiàn)了具有 16 種不同寬度（3 至 50μm）的高精度線對分辨率測試卡。 當今，微焦點成為主流的 X 射線光束尺寸，而分辨率測試卡則是調(diào)整、設(shè)置、檢查和維護 X 射線系統(tǒng)的必要工具。

  • 廠家實力

    Manufacturer Strength

  • 有效保修

    Valid Warranty

  • 質(zhì)量保障

    Quality Assurance

詳細介紹

日本JIMA RT CT-05B   X射線微米分辨率測試卡

先jin的微米技術(shù)實現(xiàn)了具有 16 種不同寬度（3 至 50μm）的高精度線對分辨率測試卡。 當今，微焦點成為主流的 X 射線光束尺寸，而分辨率測試卡則是調(diào)整、設(shè)置、檢查和維護 X 射線系統(tǒng)的必要工具。

 

   
 

規(guī)格

 

尺寸：40 x 30 mm, 3mm 厚度

硅基：8 x 8 mm, 0.2mm 厚度

吸收材料：金，厚度≥1.0μm

保護膜：鋁蒸汽保護膜，厚度 0.1mm

線數(shù)：3 線（只有 3-10μm：6 線）

線條寬度（線條與間距寬度相同）：

T 型布局 3、4、5、6、7、8、9、10μm；

Ｉ型布局 15、20、25、30、35、40、45、50μm

線對寬度公差：±10%

工作溫度：+10℃至+70℃

 

 

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